Z扫描测试系统-ZTS100

Z扫描测试系统-ZTS100

该仪器主要用于材料光学非线性吸收和非线性折射性质的测量 。通过测量材料在光路中移动时开孔、闭孔能量的变化，同时测量非线性折射和非线性吸收系数。
产品详情
应用实例
视频介绍

主要技术指标


精密光学位移台


速度

30 mm/s

最小分辨率

0.1 um

重复定位精度

<2 um



功率探测器


测试波长

350-1700 nm

功率检测范围

50 nW-40 mW

抖动消除

参比双通道信号同时采集



应用实例



实验条件

样品名称

单晶硅

激发光波长

1030 nm

探测光波长

1030 nm



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