Z扫描测试系统

该仪器主要用于材料光学非线性吸收和非线性折射性质的测量 。通过测量材料在光路中移动时开孔、闭孔能量的变化,同时测量非线性折射和非线性吸收系数。
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应用实例
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主要技术指标


精密光学位移台

速度:30mm/s               最小分辨率:0.1um             重复定位精度:<2 um

检测模块

默认开孔模式(非线性吸收);可拓展闭孔模式

   

   两个功率探测器,测试波长:700-1800nm;功率检测范围 : 50nW-40mW

   参比双通道信号同时采集,避免激光能量波动造成的测量误差




应用实例


样品:单晶硅


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