超快荧光上转换光谱系统

超快荧光上转换光谱系统是一台性能优异的用于测量超快荧光寿命的仪器。对于荧光寿命在飞秒至纳秒量级的样品,可使用该仪器对其进行测量。超快荧光上转换光谱系统是基于荧光光学门控技术作为测量的基础,具有非常高的时间分辨率。该时间分辨率仅仅依靠激发光和“闸门”光的脉冲宽度(通常为飞秒量级),而不依赖于探测器的响应时间,所以具有高测量精度。通过精确控制并改变“闸门”光脉冲相对于激发光脉冲的延迟时间,可以非常准确地将飞秒到纳秒范围内的荧光寿命测量出来。
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应用实例
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主要技术指标


荧光波长探测范围

360nm-900nm

检测时间窗口

8 ns

IRF(仪器响应函数)

≤1ps

高速光学延迟线

光学延迟线最快速度400mm/s,精度0.1um


单光栅单色仪配备高灵敏度PMT检测器+门控光子计数器/锁相放大器

高质量合频晶体配备电动角度旋转台;合频角度自动控制,无需手动调节

实现单波长动力学探测和光谱扫描+动力学三维检测模式




应用实例



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