深紫外荧光成像系统

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应用实例
视频介绍

设备主要参数

荧光寿命检测波长

220-600nm

荧光光谱检测波长

200-1000nm

时间分辨率

≤20ps

空间分辨率    

< 1um

荧光成像

荧光强度/光谱成像、荧光寿命成像

成像范围

可定制

激发波长

206nm、257nm、343nm、515nm


支持拓展拉曼、SHG、光电流等成像模块

支持拓展低温、高压、磁场等外场条件





样品:GaN

测试条件:340 nm   excited

荧光光谱


图片1.png



荧光强度成像

荧光寿命成像

图片2.png

图片3.png



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