超快阴影泵浦探测系统

超快阴影泵浦探测系统主要利用调节pump和probe光之间的光程差来进行测试。首先激光打在样品上,样品表面会产生一定程度的损毁,由于本过程很快(ps量级)因此单使用相机连续采集不能够完整的观察到整个损毁的过程。在本仪器中,当每一次激光打在样品后,便可通过延迟线调节两个光脉冲之间的延迟,从而分别采集激光打在样品后不同时刻样品损毁情况。
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应用实例
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主要技术指标

高速光学延迟线

光学延迟线最快速度 400mm/s,精度 0.1微米

检测时间窗口范围

8ns

探测器

ICCD

探测时间分辨率    

1.5倍激光脉宽

激发光聚焦镜头

20X、50X(可选配)

可实现功能   

超快光损伤检测、等离子溅射检测

泵浦光和探测光光路各配置BBO晶体用于倍频(可切换)

成像镜头(接 CCD)(放大倍数可调 2x-24x)

全自动样品二维电控移动平台(软件控制)




超快时间分辨光损伤检测





如图所示,整个采集过程可检测不同超快时间尺度下,激光对样品表面的损伤程度。


等离子体溅射检测




本功能主要利用相机的门采集功能以及延迟来采集不同时刻,样品等离子体溅射过程。整个测试流程是激光聚焦打在样品上,样品会产生等离子体此时相机的曝光时间固定,曝光时间就相当于一个“门”,再通过时序来调节“门”相对于激光打在样品上的时间为0来进行延迟,从而分别拍出不同时间等离子体的溅射过程。本功能还可以进行长时间尺度测试。





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